- Iso 25178
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ISO 25178
ISO 25178 désigne un ensemble de normes internationales définissant l’analyse des états de surface surfaciques (appelés aussi états de surface 3D).
Cette norme en plusieurs parties a été rédigée par le groupe de travail WG16 au sein du comité technique TC213 de l'ISO (Organisation internationale des standards).
Il s’agit de la première norme au monde prenant en compte la spécification et la mesure des états de surface tridimensionnels. La norme définit notamment les paramètres surfaciques d’état de surface et les opérateurs de spécification associés. Elle décrit également les technologies de mesure applicables, les méthodes pour les étalonner ainsi que les étalons matérialisés ou les étalons logiciels nécessaires.
La grande nouveauté de cette norme est la prise en compte des moyens de mesure sans contact, déjà largement utilisés dans l’industrie mais qui ne disposaient pas jusque là du support normatif nécessaire dans le cadre d’une démarche qualité ISO 9000. Cette norme officialise donc désormais les moyens métrologiques surfaciques en plus des moyens profilométriques normalisés depuis 30 ans. Il en est de même avec les technologies de mesure qui ne sont plus limitées à la mesure à contact (stylet à pointe diamant), mais peuvent être optiques, telles que le capteur point confocal chromatique ou le microscope interférométrique.
Sommaire
Structure de la norme
- Titre général
ISO 25178 : Spécification géométrique des produits (GPS) – États de surface : surfacique
- Documents constituant la norme
- Partie 1 : indication des états de surface
- Partie 2 : termes, définitions et paramètres d’états de surface
- Partie 3 : opérateurs de spécification
- Partie 6 : classification des méthodes de mesure des états de surface
- Partie 601 : caractéristiques nominales des instruments à contact (palpeur)
- Partie 602 : caractéristiques nominales des instruments sans-contact (à capteur chromatique confocal)
- Partie 603 : caractéristiques nominales des instruments sans-contact (microscope interférométrique à glissement de franges)
- Partie 701 : étalonnage et étalons pour les instruments à contact (palpeur)
D'autres documents sont en projet ou en cours de rédaction et seront publiés les prochaines années. Plusieurs documents en projet concernent notamment d'autres technologies de mesure optique (microscope confocal 3D, microscope interférométrique en lumière blanche, microscope holographique numérique).
Définitions nouvelles
La norme ISO 25178 est considérée par le TC213 comme devant redéfinir à la base les états de surface en partant du principe que la nature est intrinsèquement 3D. Il est prévu que les futurs travaux déclineront ces nouveaux concepts pour l'analyse profilométrique des états de surface, entraînant une révision complète de toutes les normes actuelles d’états de surface (ISO 4287, ISO 4288, ISO 1302, ISO 11562, ISO 12085, ISO 13565, etc.).
Un nouveau vocabulaire est donc mis en place :
- Filtre S : filtre éliminant de la surface les constituants de plus petite échelle (ou de plus petite longueur d’onde pour un filtre linéaire)
- Filtre L : filtre éliminant de la surface les constituants de plus grande échelle (ou de plus grande longueur d’onde pour un filtre linéaire)
- Opérateur F : opérateur de suppression de la forme nominale.
- Surface S-L : surface obtenue après filtrage S et L. Équivalente à une surface de rugosité ou d’ondulation.
- Surface S-F : surface obtenue après filtrage S et application de l’opérateur F.
- Surface primaire : surface obtenue après filtrage S.
- Indice gigogne (nesting index) : indice correspondant à la longueur d’onde de coupure d’un filtre linéaire, ou l’échelle de l’élément structurant d’un filtre morphologique.
Les nouveaux filtres autorisés sont décrits dans la série de spécifications techniques ISO/TS 16610. Ces filtres incluent : le filtre gaussien, le filtre spline, les filtres robustes, les filtres morphologiques, les filtres par ondelettes, les filtres cascadés, etc.
Paramètres surfaciques d'états de surface
- Généralités
Les paramètres surfaciques s’écrivent avec la lettre majuscule S (ou V) suivie d’un suffixe de une ou deux lettres minuscules. Ils sont calculés sur la surface entière et non plus comme pour les paramètres 2D par moyenne d'estimateurs calculés sur plusieurs longueurs de base. Le nom du paramètre surfacique ne reflète pas le contexte de filtrage comme en 2D. Par exemple, on aura toujours Sa quelle que soit la surface, alors qu’en 2D il y avait Pa, Ra ou Wa selon que le profil était primaire, de rugosité ou d’ondulation.
- Paramètres de hauteur
Ces paramètres ne quantifient que l'axe z perpendiculaire à la surface.
Paramètre Description Sq hauteur moyenne quadratique (écart-type de la distribution des hauteurs) Ssk facteur d’asymétrie de la distribution des hauteurs Sku facteur d’aplatissement de la distribution des hauteurs Sp hauteur maximale des pics Sv profondeur maximale des vallées Sz hauteur totale de la surface Sa hauteur moyenne arithmétique - Paramètres spatiaux
Ces paramètres quantifient les informations latérales présentes sur les axes x et y de la surface.
Paramètre Description Sal longueur d’auto-corrélation Str rapport d’aspect de la texture Std direction principale de la texture - Paramètres hybrides
Ces paramètres combinent les informations présentes sur les trois axes x, y et z de la surface.
Paramètre Description Sdq gradient moyen quadratique Sdr aire développée - Paramètres fonctionnels
Ces paramètres sont calculés à partir de la courbe d’Abbott-Firestone obtenue par intégration de la distribution des hauteurs sur toute la surface.
Paramètre Description Smr Taux de portance Smc profondeur de taux de portance Sxp hauteur des pics principaux Vm volume de matière Vv volume de vide Vmp volume de matière des pics Vmc volume de matière du cœur Vvc volume de vide du cœur Vvv volume de vide des vallées - Paramètres liés à la segmentation
Ces paramètres sont issus d’une segmentation de la surface en motifs (bassins versants et collines). La segmentation utilise la méthode dite de « la ligne de partage des eaux ».
Paramètre Description Spd densité des pics significatifs Spc courbure moyenne des pics significatifs S10z hauteurs des 10 points principaux S5p hauteur des 5 principaux pics S5v hauteur des 5 principales vallées Sda aire des bassins versants fermés Sha aire des collines fermées Sdv volume des bassins versants fermés Shv volume des collines fermées Instruments de mesure des états de surface surfaciques
La partie 6 de la norme catégorise les technologies utilisables en trois familles :
- les instruments topographiques : profilomètres 3D à contact ou sans contact, microscopes interférentiels ou confocaux, projecteurs de lumière structurée, microscopes stéréoscopiques, etc.
- les instruments profilométriques : profilomètres 2D à contact ou sans contact, lasers ligne à triangulation, etc.
- les instruments fonctionnant par intégration : mesure pneumatique, capacitive, par diffusion optique, etc.
et définit chacune de ces technologies.
La partie 7 de la norme traite des étalons logiciels, en officialisant le format de fichier SDF permettant l'échange entre différents instruments et logiciels, et la réalisation d'étalons non matérialisés pour l'étalonnage des instruments.
Ensuite, la norme explore en détail un certain nombre de ces technologies en leur consacrant chacune deux documents :- partie 6xx : caractéristiques nominales de l’instrument
- partie 7xx : étalonnage de l’instrument
- Profilomètre à contact
Les parties 601 et 701 décrivent le profilomètre à contact, utilisant une pointe diamant pour mesure la surface à l’aide d’un dispositif de balayage latéral.
- Profilomètre à capteur confocal chromatique
La partie 602 décrit ce type de profilomètre sans contact reposant sur un capteur point à lumière blanche appelé confocal chromatique. Le principe repose sur la dispersion chromatique de la source de lumière blanche le long de l’axe optique, à travers un dispositif confocal, et en une détection de la longueur d’onde focalisée sur la surface par un dispositif de type spectromètre.
- Microscope interférométrique à glissement de frange
La partie 603 traite du microscope interférométrique monochromatique dit à glissement de frange (phase shifting)
- Microscope interférométrique en lumière blanche
La partie 604 traite du microscope interférométrique dit en lumière blanche ou à cohérence de phase.
Références
- Cet article a d'abord été écrit en français et a servi de source à la traduction anglaise.
- ISO 25178 sur le site ISO
- « Etats de surface : la norme ISO 25178 qui va tout changer » : François Blateyron, in Mesures, n°787, septembre 2006, pages 44 à 47.
- ISO/TS 16610-1 : Spécification géométrique des produits (GPS) : techniques d’extraction et de filtrage, partie 1 : terminologie
- ISO/TS 14406 : Spécification géométrique des produits (GPS) : Extraction
Catégorie : Norme ISO
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